TechTalkThai ศูนย์รวมข่าว Enterprise IT ออนไลน์แห่งแรกในประเทศไทย
ในงาน USENIX ที่ผ่านมา นักวิจัยจาก University of Toronto ได้ร่วมกับ Google เพื่อเปิดเผยข้อมูลผลสำรวจจาก Data Center ของ Google เอง โดยทำการเปรียบเทียบการใช้งานเทคโนโลยีรูปแบบต่างๆ ของ Solid State Drive (SSD) ทั้งแบบ MLC, eMLC และ SLC มาเป็นเวลากว่า 6 ปีโดยมุ่งเน้นที่ประเด็นของความทนทานเป็นหลัก
ในรายงาน Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected ที่ทำการศึกษาโดย Bianca Schroeder แห่ง University of Toronto และ Raghav Lagisetty, Arif Merchant แห่ง Google ได้ทำการวิเคราะห์แง่มุมต่างๆ ที่ส่งผลต่อความทนาทนของ SSD ได้แก่
- Error ประเภทต่างๆ ที่เกิดขึ้นในขณะใช้งาน
- Raw Bit Error Rate (RBER) ที่เกิดขึ้นจากสาเหตุต่างๆ เช่น Wear-out, Age และ Workload รวมถึงความสัมพันธ์กับ Error ประเภทต่างๆ
- Uncorrectable Error ที่เกิดขึ้น พร้อมความถี่และความเกี่ยวข้องกับปัจจัยอื่นๆ
- Hardware Failure รูปแบบต่างๆ ที่เกิดขึ้นจากการใช้งานจริง เช่น Block Failure, Chip Failure, Rate of Repair & Replacement of Drive
- เปรียบเทียบความทนทานระหว่าง SSD แบบ MLC, eMLC และ SLC
การศึกษาครั้งนี้ได้ทำการศึกษาบน SSD 10 รุ่น แต่ละรุ่นมีการใช้งานเป็นเวลารวมกันนานเกินกว่า 1,000,000 วัน (จำนวนวันที่ทำงาน * จำนวน SSD ที่ใช้งาน)
ความน่าสนใจในรายงานนี้ก็คือ มีส่วนทีชี้ว่า MLC และ SLC แต่ละยี่ห้อนั้นแตกต่างกันชัดเจนมาก โดย SLC บางรุ่นก็พังก่อน MLC เสียอีก ในขณะที่ SLC บางรุ่นก็ทนทานกว่า SSD อื่นทั้งหมดที่ได้ทำการทดสอบ ทำให้ความเป็น MLC หรือ SLC ไม่สามารถบอกอะไรได้มากนักในมุมของความทนทาน
ผลสรุปของรายงานฉบับนี้มีด้วยกันดังนี้ (ยกมาเฉพาะบางส่วนจะได้ไม่ยาวเกินไป)
- 20-63% ของ SSD จะพบกับ Uncorrectable Error ภายใน 4 ปีแรก และส่งผลกระทบประมาณ 2-6 Drive Days จาก 1,000 Drive Days
- SLC ที่เคยถูกวางเอาไว้ว่าเป็น SSD สำหรับ Enterprise ไม่ได้มีความทนทานแตกต่างจาก MLC แต่อย่างใด
- SSD มีอัตราการ Replace ที่ต่ำกว่า Hard Drive แต่ก็มีอัตราการเกิดปัญหา Uncorrectable Error สูงกว่ามาก
- Bad Block และ Bad Chip นั้นมีความแตกต่างตามรุ่นอย่างมีนัยยะ 30-80% ของ ภายใน 4 ปีแรก SSD จะถูกตรวจพบ Bad Block อย่างน้อย 1 Block และ
- 2-7% จะต้องพบ Bad Chip อย่างน้อย 1 Chip
สำหรับสิ่งที่เหล่าผู้ดูแลระบบทำก่อนนำ SSD ไปใช้ภายใน Data Center ก็คือการทดสอบหา Bad Block ที่เกิดขึ้น เพราะ SSD ที่มีจำนวน Bad Block สูงตั้งแต่ออกมาจากโรงงานั้นก็มีแนวโน้,ที่จะเสียเพิ่มขึ้นไปอีกในขณะใช้งานจริง รวมถึง Error ประเภทอื่นๆ ด้วยเช่นกัน
สำหรับผู้ที่อยากอ่าน Flash Reliability in Production: The Expected and the Unexpected ฉบับเต็ม สามารถอ่านได้เลยที่ http://0b4af6cdc2f0c5998459-c0245c5c937c5dedcca3f1764ecc9b2f.r43.cf2.rackcdn.com/23105-fast16-papers-schroeder.pdf นะครับ แนะนำให้เข้าไปอ่านกัน สนุกดี
